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産品中(zhōng)心(xīn)

SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 超高(gāo)分(fēn)辨率场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) SU9000

詳细(xì)说明(míng)

專門(mén)为(wèi)電(diàn)子束(shù)敏感(gǎn)樣(yàng)品和需最(zuì)大(dà)300万(wàn)倍穩定(dìng)觀察的(de)先進(jìn)半導體(tǐ)器件(jiàn)，高(gāo)分(fēn)辨成(chéng)像所(suǒ)設計(jì)。

特(tè)點(diǎn)

新(xīn)的(de)電(diàn)子槍和電(diàn)子光(guāng)學(xué)設計(jì)提(tí)高(gāo)了(le)低(dī)加速電(diàn)压性(xìng)能(néng)。

0.4 nm / 30 kV (SE)

1.2 nm / 1 kV (SE)

0.34 nm / 30 kV (STEM)

用(yòng)改良的(de)高(gāo)真(zhēn)空(kōng)性(xìng)能(néng)和無与倫比的(de)電(diàn)子束(shù)穩定(dìng)性(xìng)来(lái)實(shí)現(xiàn)高(gāo)效率截面觀察。

采用(yòng)全(quán)新(xīn)設計(jì)的(de)Super E x B能(néng)量(liàng)过(guò)濾技術(shù)，高(gāo)效，靈活地(dì)收(shōu)集SE / BSE/ STEM信(xìn)号(hào)。

上(shàng)一(yī)条: SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 超高(gāo)分(fēn)辨场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng)Regulus系(xì)列下(xià)一(yī)条: X光(guāng)機(jī) 在(zài)線(xiàn)工業CT 在(zài)線(xiàn)型 3D X射線(xiàn)自(zì)動(dòng)檢查裝(zhuāng)置 3Xi系(xì)列 BF-X系(xì)列