SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 超高(gāo)分(fēn)辨场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng)Regulus系(xì)列

詳细(xì)说明(míng)

現(xiàn)有(yǒu)機(jī)型SU8240,SU8230,SU8220及(jí)SU8010重新(xīn)整合，衍生(shēng)而(ér)成(chéng)Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100。

"Regulus系(xì)列"繼承了(le)現(xiàn)有(yǒu)機(jī)型的(de)觀察和分(fēn)析性(xìng)能(néng)，配备SU8200系(xì)列的(de)低(dī)噪音(yīn)冷(lěng)场(chǎng)發(fà)射電(diàn)子槍*1，可(kě)以(yǐ)獲得高(gāo)穩定(dìng)的(de)束(shù)流。

通过(guò)優化(huà)電(diàn)子光(guāng)學(xué)系(xì)统，Regulus8240/8230/8220在(zài)1 kV条件(jiàn)下(xià)分(fēn)辨率提(tí)高(gāo)到(dào)0.7 nm，Regulus8100的(de)分(fēn)辨率提(tí)高(gāo)到(dào)0.8 nm。

此外(wài)，为(wèi)充分(fēn)發(fà)揮超高(gāo)分(fēn)辨的(de)能(néng)力，放(fàng)大(dà)倍率也(yě)從过(guò)去(qù)的(de)100万(wàn)倍提(tí)升(shēng)到(dào)200万(wàn)倍*1。

Regulus8240/8230/8220/8100還(huán)完善了(le)用(yòng)戶支持(chí)功能(néng)，通过(guò)此功能(néng)用(yòng)戶更(gèng)容易理(lǐ)解(jiě)各(gè)種(zhǒng)複雜信(xìn)号(hào)的(de)檢測原理(lǐ)，幫助用(yòng)戶充分(fēn)發(fà)揮儀器的(de)最(zuì)佳性(xìng)能(néng)。

*1僅限Regulus8240/8230/8220

特(tè)點(diǎn)

沿用(yòng)"SU8200系(xì)列"的(de)冷(lěng)场(chǎng)發(fà)射電(diàn)子槍*2

采用(yòng)電(diàn)子束(shù)在(zài)Flashing後(hòu)出(chū)現(xiàn)的(de)高(gāo)亮(liàng)度(dù)穩定(dìng)區(qū)域作(zuò)为(wèi)穩定(dìng)觀察的(de)區(qū)間(jiān)，使得低(dī)加速電(diàn)压条件(jiàn)下(xià)兼备高(gāo)分(fēn)辨觀察和分(fēn)析的(de)最(zuì)佳性(xìng)能(néng)

(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)

采用(yòng)污染小、高(gāo)真(zhēn)空(kōng)樣(yàng)品倉

運用(yòng)能(néng)量(liàng)过(guò)濾器(選配)，可(kě)觀察到(dào)多(duō)種(zhǒng)成(chéng)分(fēn)对(duì)比度(dù)*2

规格

上(shàng)一(yī)条: SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射電(diàn)鏡(jìng)SU5000 下(xià)一(yī)条: SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 超高(gāo)分(fēn)辨率场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) SU9000

産品中(zhōng)心(xīn)

産品分(fēn)類(lèi)

SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) 超高(gāo)分(fēn)辨场(chǎng)發(fà)射掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng)Regulus系(xì)列