SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 台(tái)式電(diàn)鏡(jìng) 台(tái)式電(diàn)子顯微鏡(jìng) 掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) FlexSEM 1000 II

詳细(xì)说明(míng)

特(tè)點(diǎn)

FlexSEM 1000 II，憑借(jiè)全(quán)新(xīn)設計(jì)的(de)電(diàn)子光(guāng)學(xué)系(xì)统和高(gāo)靈敏度(dù)檢測器，可(kě)在(zài)加速電(diàn)压20 kV下(xià)實(shí)現(xiàn)4.0 nm的(de)分(fēn)辨率。全(quán)新(xīn)開(kāi)發(fà)的(de)用(yòng)戶界面，具有(yǒu)亮(liàng)度(dù)和对(duì)焦自(zì)動(dòng)調节(jié)功能(néng)，可(kě)以(yǐ)在(zài)短(duǎn)时(shí)間(jiān)內(nèi)進(jìn)行各(gè)種(zhǒng)觀察。此外(wài)，還(huán)搭载(zài)了(le)全(quán)新(xīn)的(de)導航功能(néng)“SEM MAP”，这(zhè)个(gè)功能(néng)可(kě)弥補電(diàn)子顯微鏡(jìng)上(shàng)難以(yǐ)找(zhǎo)準视野的(de)缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最(zuì)直(zhí)觀的(de)视野移動(dòng)。

盡管(guǎn)是(shì)可(kě)放(fàng)置在(zài)桌(zhuō)面上(shàng)的(de)小巧緊湊型*1電(diàn)子顯微鏡(jìng)，仍可(kě)實(shí)現(xiàn)4.0 nm的(de)分(fēn)辨率

憑借(jiè)獨特(tè)的(de)高(gāo)靈敏度(dù)二次(cì)電(diàn)子、背散(sàn)射電(diàn)子檢測器、低(dī)真(zhēn)空(kōng)檢測器（UVD*2），可(kě)在(zài)低(dī)加速/低(dī)真(zhēn)空(kōng)下(xià)觀察时(shí)實(shí)現(xiàn)最(zuì)高(gāo)的(de)画(huà)質(zhì)

全(quán)新(xīn)的(de)用(yòng)戶界面，無論用(yòng)戶的(de)熟练程度(dù)如(rú)何，都可(kě)實(shí)現(xiàn)高(gāo)画(huà)質(zhì)和高(gāo)處(chù)理(lǐ)能(néng)力

全(quán)新(xīn)的(de)定(dìng)位(wèi)功能(néng)“SEM MAP”，支持(chí)觀察时(shí)的(de)视野搜索和樣(yàng)品定(dìng)位(wèi)

大(dà)直(zhí)徑（30毫(háo)米(mǐ)2）無氮EDS檢測器，可(kě)快(kuài)速進(jìn)行元(yuán)素分(fēn)析*2

*1設置到(dào)桌(zhuō)面上(shàng)时(shí)，請将機(jī)體(tǐ)与電(diàn)源盒分(fēn)離*2選項

规格

上(shàng)一(yī)条: SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 台(tái)式電(diàn)鏡(jìng) 掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) TM4000II/TM4000PlusII 下(xià)一(yī)条: SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 场(chǎng)發(fà)射電(diàn)鏡(jìng) 鎢燈(dēng)丝(sī)掃描電(diàn)鏡(jìng) 冷(lěng)场(chǎng)掃描電(diàn)鏡(jìng) 掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) SU3800/SU3900

産品中(zhōng)心(xīn)

産品分(fēn)類(lèi)

SEM掃描電(diàn)鏡(jìng) 台(tái)式電(diàn)鏡(jìng) 台(tái)式電(diàn)子顯微鏡(jìng) 掃描電(diàn)子顯微鏡(jìng) FlexSEM 1000 II